时间：2019-10-24 浏览：8666次
仪器型号/公司：Tristar II 3020，Micromeritics公司
主要参数：
1.仪器采用“静态容量法”等温吸附的原理
2.分析范围：材料比表面积 0.01 m2/g至无上限
3.孔径分析范围17埃-500埃
4.脱气温度：最高可达450 ℃
仪器用途： Tristar II 3020可以进行材料比表面及孔分布的测试（吸附质-液氮）。可测全吸附：吸-脱附曲线、BET（比表面）及 Langmuir比表面、平均孔尺寸和单点总孔体积、BJH介孔等。
适用于各种材料的研究与产品测试,包括测量沸石，碳材料，分子筛，二氧化硅，氧化铝，土壤，黏土，有机金属化合物骨架结构等各种材料，其中材料比表面与孔分布的测试大量应用于分子筛、活性炭等催化材料的表面物理性能研究，广泛应用于催化、环境、建筑领域。
测试项目：
注意事项：
1.送样之前请告知样品的大致比表面积、和样品的预处理温度。
2.如需平行测试，按照平行样品个数累加收费。
3.特殊测试需求，根据测试条件议价。
联系人：章琪
电话：021-37896103
联系邮箱：test1@shicti.com
测试申请单：
31011702007798
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